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2015-4

普通四探針方阻電阻率測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTMF84）及標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、GB/T1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)配置232電腦接口及USB兩種接口，本機(jī)采用范德堡測(cè)量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差，比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試...

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2015-4

粉末電阻率測(cè)試儀

粉末電阻率測(cè)試儀粉末電阻率測(cè)試儀本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、方阻、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購.使用薄膜按鍵開關(guān)面板，操作簡(jiǎn)單，耐用，符合人體工學(xué)操作規(guī)范.型粉末電阻率測(cè)試儀滿足：YST587.6-2006炭陽極用煅后石油焦檢測(cè)...

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2015-4

炭素電阻率測(cè)試儀

炭素電阻率測(cè)試儀一.四端測(cè)試法測(cè)量碳素材料，石墨等塊狀棒狀及粉末材料常溫下高導(dǎo)電性能。該儀器采用高精度恒流恒壓源，自動(dòng)顯示電流和電壓并根據(jù)測(cè)試產(chǎn)品特性自動(dòng)轉(zhuǎn)換測(cè)試量程，無需手動(dòng)調(diào)節(jié)和設(shè)定。4.3吋液晶屏幕顯示，自動(dòng)顯示測(cè)試測(cè)試電流、電壓、溫度、電阻率等數(shù)據(jù)，選配：如配備軟件可，通過軟件操控儀器工作，并獲得測(cè)試數(shù)據(jù)之圖表和測(cè)試結(jié)果。根據(jù)產(chǎn)品形狀不同可以選配測(cè)試治具.二.適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門對(duì)新材料之研究，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要...

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2015-4

實(shí)用型表面和體積電阻率測(cè)試儀

實(shí)用型表面和體積電阻率測(cè)試儀一、(1)適用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T22042-2008《服裝防靜電性能表面電阻率試驗(yàn)方法》；EN1149-1-1995《防護(hù)服靜電性能部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》；GB/T1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》（與標(biāo)準(zhǔn)IEC93-1980等效）；FZ/T64013-2008《靜電植絨毛絨》；SJ/10694-2006《電子產(chǎn)品制造與應(yīng)用系統(tǒng)防靜電檢測(cè)通用規(guī)范》6.1及ASTMD257《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》要求制作。...

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2015-4

粉體噴流性指數(shù)受哪些因素影響

粉體噴流性指數(shù)受哪些因素影響噴流性指數(shù)是崩潰角、差角、分散度等項(xiàng)指數(shù)的加權(quán)和。得流動(dòng)性指數(shù)、崩潰角、差角、分散度。這四個(gè)指數(shù)的總和稱為噴流性指數(shù)（flowability）。平板角的計(jì)算方法平板角θs=（θs1+θs2）/2分散度Ds=(10—m)/10×100%崩潰角：給測(cè)量休止角的堆積粉體以一定的沖擊，使其表面崩潰后圓錐體的底角稱為崩潰角。平板角：將埋在粉體中的平板向上垂直提起，粉體在平板上的自由表面（斜面）和平板之間的夾角與受到震動(dòng)后的夾角的平均值稱為平板角。在實(shí)際測(cè)量過...

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2015-4

評(píng)價(jià)粉體流動(dòng)性方法及原理

評(píng)價(jià)粉體流動(dòng)性方法及原理通過對(duì)粉末和顆粒振實(shí)密度、松裝密度、堆積密度、安息角（休止角）、抹刀角、崩潰角、差角、剪切性、分散度、凝集度、流動(dòng)性和流動(dòng)時(shí)間等項(xiàng)目測(cè)量,綜合反映粉體流動(dòng)性和表征特性狀況，為粉末粉體顆粒表征研究提供可靠和數(shù)據(jù).一般來說有如下方法和項(xiàng)目測(cè)試所得數(shù)據(jù)可以用來評(píng)價(jià)粉體的流動(dòng)特性1.振實(shí)密度：通過定體積法或者定質(zhì)量法測(cè)得數(shù)據(jù)后，計(jì)算振實(shí)密度.測(cè)定振實(shí)密度和松裝密度后，直接獲得HausnerRatio豪斯納比（振實(shí)密度/松裝密度）和壓縮性指數(shù)（振實(shí)密度-松裝密度...

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2015-3

JIS安息角測(cè)定儀原理

JIS安息角測(cè)定儀,安息角儀日本標(biāo)準(zhǔn)安息角測(cè)定儀JIS安息角測(cè)定儀配置調(diào)節(jié)平衡之水平儀裝置，減少外部環(huán)境對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響；JIS安息角測(cè)定儀原理：將足夠滿溢料盤的粉塵從漏斗口注入到水平料盤上；測(cè)量粉塵堆積斜面與底部水平面所夾銳角，即粉塵安息角。JIS安息角測(cè)定儀技術(shù)參數(shù)：1、漏斗錐度60°±0.5°；2、流出口徑13mm，漏斗中心與下部料盤中心應(yīng)在一條垂線上；3、流出口底沿與盤面距離75mm，量角器7.5cm~10cm；4、料盤直徑80mm，容積100ml的量筒...

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2015-3

半導(dǎo)體高溫電阻測(cè)試儀,導(dǎo)體高溫電阻儀,高溫四探針測(cè)試系統(tǒng)

FT-351高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)四、技術(shù)參數(shù)資料1.方塊電阻范圍：10-5～2×105Ω/□2.電阻率范圍：10-6×106cm3.測(cè)試電流范圍：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA4.電流精度：±0.1%讀數(shù)5.電阻精度：≤0.3%6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率7.測(cè)試方式:雙電測(cè)量8.工作電源:輸入:AC220V±10%,5...